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發(fā)布日期:2022-04-17 點(diǎn)擊率:102
0 引 言
硬幣的識別分為兩個方面:對于硬幣幣值的準(zhǔn)確檢測;對于真幣、偽幣的準(zhǔn)確鑒別。由于硬幣的復(fù)雜性,長期以來,對于硬幣的準(zhǔn)確識別都難以很好的解決。目前,無論是國外還是國內(nèi),通常的解決方法都是基于單片機(jī)的電渦流檢測法。本文在電渦流檢測的基礎(chǔ)上,利用FPGA的快速處理特性和高可靠特性,對硬幣的厚度、直徑、材質(zhì)、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率等進(jìn)行了準(zhǔn)確的檢測,以便準(zhǔn)確地識別硬幣。
1 電渦流反射式互補(bǔ)檢測傳感器原理
電渦流檢測是建立在電磁感應(yīng)原理基礎(chǔ)之上的一種無損檢測方法,它適用于導(dǎo)電材料,如果把一塊導(dǎo)體置于交變磁場之中,在導(dǎo)體中就有感應(yīng)電流存在,即產(chǎn)生渦流,由于導(dǎo)體自身各種因素(如電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、形狀、尺寸和缺陷等)的變化會導(dǎo)致感應(yīng)電流的變化,利用這種現(xiàn)象判知導(dǎo)體性質(zhì)、狀態(tài)的檢測方法,叫作電渦流檢測法。
在電渦流檢測中,是靠檢測線圈來建立交變磁場的;把能量傳遞給被檢導(dǎo)體,同時又通過渦流建立的交變磁場獲得被檢測導(dǎo)體中的質(zhì)量信息。
在本硬幣識別器中,采用探頭式線圈,由于硬幣在幣道中滾動時,其在徑向位置會產(chǎn)生微小的抖動,為了消除這種抖動帶來的影響,在幣道兩邊都安裝有檢測線圈,進(jìn)行探頭互補(bǔ)式檢測。如圖1所示。 
2 基于FPGA的等位移多點(diǎn)采樣原理
硬幣通過檢測線圈時,會引起振蕩頻率發(fā)生變化,傳統(tǒng)的檢測方法通常是檢測變化的振蕩頻率的極值,即最大值。但這種檢測方法只有一個采樣點(diǎn),識別偽幣能力不強(qiáng)。也有人采用每過一段相同的時間取一次采樣點(diǎn),通過多采樣點(diǎn)提高識別效果。但是,當(dāng)硬幣通過幣道時,由于投幣力量、初始速度以及硬幣邊緣的光滑程度、硬幣的重量等的區(qū)別,并不是每一種硬幣通過檢測線圈時的速度都是一致的;同一種、甚至同一個硬幣,也并不是每次通過檢測線圈時的速度都是一致的。所以,若采取等時間間隔取樣,就會造成取樣時,硬幣和檢測線圈的物理相對位置不一樣,引起檢測結(jié)果不一樣。這不僅會引起對偽幣可靠識別的準(zhǔn)確性,也會影響對真幣的幣值檢測及真幣識別的可靠性,甚至把真幣當(dāng)成偽幣來識別。正是由于這些問題,在實(shí)際的硬幣識別器產(chǎn)品中,通常采用的是只采取一個采樣點(diǎn),即極值采樣法,但這種單點(diǎn)采樣法由于只在硬幣通過幣道的某一瞬間獲取硬幣的參數(shù)信息,有很大的局限性,識別偽幣能力不強(qiáng)。
在該設(shè)計中,采取等位移多點(diǎn)取樣法,完全克服了以上方法的缺點(diǎn),具有很高的識幣能力。同時,還能對硬幣的直徑進(jìn)行檢測。
由于采樣時間和采樣間隔都很短,對系統(tǒng)的高速性和可靠性有較高的要求,用傳統(tǒng)的單片機(jī)難以滿足要求,在該設(shè)計中,通過FPGA完成對數(shù)據(jù)的高速采樣和處理。
2.1 系統(tǒng)原理
圖2為系統(tǒng)原理框圖。在幣道的不同位置安裝有幾個光電傳感器,通過基于FPGA的脈沖寬度測量,可檢測得到硬幣通過幣道中光電傳感器之問距離的間隔時間。通過FPGA的高速數(shù)據(jù)處理,可得到硬幣的直徑、硬幣通過幣道時的加速度,并得到硬幣進(jìn)行等位移多點(diǎn)采樣的采樣時刻。當(dāng)硬幣通過檢測線圈時,就進(jìn)行基于 FPGA的多倍周期同步測頻。再由FPGA對數(shù)據(jù)進(jìn)行高速處理,得到硬幣的特征參數(shù),再把該特征參數(shù)和E2PROM中的硬幣特征值進(jìn)行比較,就可以判別硬幣的幣值和真?zhèn)巍?
圖3為基于FPGA的間隔時間測量原理示意圖,A,B,C三點(diǎn)為光電檢測點(diǎn)。當(dāng)硬幣通過光電檢測點(diǎn)時,光電檢測電路的輸出由低電平跳變?yōu)楦唠娖健D4為硬幣通過幣道時A,B,C三個光電傳感器的輸出波形。
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