介紹
標(biāo)智GM220涂層測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚法， 是一種便攜式涂覆層測(cè)厚儀， 它渡層等)覆層厚度上的測(cè)量。被廣泛地用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、 商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
特點(diǎn)或功能
LCD直觀顯示測(cè)量值、測(cè)量狀態(tài)
采用高靈敏度探頭， 測(cè)量準(zhǔn)確
具有零點(diǎn)、 二點(diǎn)和基本三種校驗(yàn)方法， 可隨時(shí)快捷的進(jìn)行系統(tǒng)誤差修正
具有單次、 連續(xù)和偏差三種測(cè)量方式
可記錄、 存儲(chǔ)及查看測(cè)量數(shù)據(jù)
可統(tǒng)計(jì)測(cè)量數(shù)據(jù)的最大值、最小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差和測(cè)量次數(shù)
蜂鳴器提示功能
公英制轉(zhuǎn)換功能
低電指示功能
自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
LCD背光燈功能
設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單、結(jié)構(gòu)緊湊，便于隨身攜帶使用
二、操作說明
標(biāo)準(zhǔn)片:
a. 已知厚度的試樣均可作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片， 簡(jiǎn)稱標(biāo)準(zhǔn)片。
b. 有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片:采用已知厚度的、 均勻的、 并與基體牢固結(jié)合的非磁性覆蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片。
基體:
a.對(duì)于GM220涂層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)基體金屬的磁性和表面粗糙度， 應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。 為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性， 可用標(biāo)準(zhǔn)基體與待測(cè)試件基體上所測(cè)得的讀數(shù)進(jìn)行比較。
b.如果待測(cè)試件的基體金屬厚度沒有超過參數(shù)表中所規(guī)定的臨界厚度， 可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn):
(1).在與待測(cè)試件的基體金屬厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)；
(2).用一足夠厚度的， 電學(xué)或磁學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊標(biāo)準(zhǔn)片或試件， 但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無(wú)間隙。 (對(duì)兩面有覆蓋層的試件， 不能采用襯墊法。)
c.如果待測(cè)覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn)， 則覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率， 應(yīng)與試樣的曲率相同。
三、其他事項(xiàng)
1.影響測(cè)量精度的因素及有關(guān)說明：
a.基體金屬磁性：
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的） ， 為了避免熱處理及冷加工因素的影響， 應(yīng)使用與被測(cè)件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),亦可用待涂覆金屬進(jìn)行校準(zhǔn)。
b.基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。 大于這個(gè)厚度， 測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。 本儀器的臨界厚度值見產(chǎn)品規(guī)格中的要求(≤0.5mm)。
c.邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。 因此在靠近被測(cè)件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
d.曲率
被測(cè)件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。 這種影響總隨著曲率半徑的減少明顯地增大。
e.表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。 粗糙程度增大，影響增大。 粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差， 每次測(cè)量時(shí)， 在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)， 以克服這種偶然誤差。 如果基體金屬粗糙， 還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬鍍件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)； 或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶劑溶解除去覆蓋層后， 再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
f.磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)， 會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，
h.探頭壓力器測(cè)頭用彈簧保持一個(gè)基本恒定的壓力。
i.探頭的放置保持垂直。
j. 被測(cè)件的變形的數(shù)據(jù)。
2. 使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定：
a.基體金屬特性磁性和表面粗糙度相似。
b.基體金屬厚度
c.邊緣效應(yīng)不應(yīng)在被測(cè)件彎曲表面上測(cè)量。
e.讀數(shù)次數(shù)積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。 覆蓋層厚度局部差異， 也要求在指定的面積內(nèi)
f.表面清潔度質(zhì)等， 但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
3.關(guān)于測(cè)量結(jié)果的說明：
a.根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)的觀點(diǎn)， 一次讀數(shù)是不可靠的。 因此任何由本儀器顯示間內(nèi)由測(cè)頭和儀器完成的。
b.為使測(cè)量更加準(zhǔn)確， 可用本儀器在待測(cè)點(diǎn)多次測(cè)量， 并用刪除功能
計(jì)量： 平均值(AVG)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測(cè)量次數(shù)(NO)、
c.按照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)， 最終的測(cè)量結(jié)果可以表達(dá)為：
CH=A±2D
其中： CH覆層厚度
A多次測(cè)量的平均值(AVG)
D標(biāo)準(zhǔn)偏差(dFR)
