介紹
標(biāo)智GM280F分體式涂覆層測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚法,它能快速無(wú)損傷、精確地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的非確性(如油漆、電違層等)覆層厚度上的測(cè)量。被廣、這地用于制造業(yè)、金屬1加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
特點(diǎn)或功能
LCD直觀顯示測(cè)量值、測(cè)量狀態(tài)
采用高靈敏度探頭,測(cè)量準(zhǔn)確
具有零點(diǎn)、二點(diǎn)和基本三種校驗(yàn)方法,可隨時(shí)快捷的進(jìn)行系統(tǒng)誤差修正
具有單次、注裝和偏差三種測(cè)量方式
可記錄、存儲(chǔ)査看及刪除測(cè)量數(shù)據(jù)
可對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單次可理數(shù)據(jù)進(jìn)行田除,也可刷除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)
可統(tǒng)計(jì)最大値、最小值、平均値、標(biāo)準(zhǔn)偏差和測(cè)量次數(shù)
蜂鳴器提示功能
公英制轉(zhuǎn)換功能
低電指示功能
自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
LCD背光燈功能
測(cè)厚儀產(chǎn)品規(guī)格" style="line-height: 25.2px; text-indent: 28px; white-space: normal;">
二、操作說(shuō)明
標(biāo)準(zhǔn)片&基體的認(rèn)識(shí)
標(biāo)準(zhǔn)片:
a.已知厚度的試樣均可作為被準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片,簡(jiǎn)稱(chēng)標(biāo)準(zhǔn)片。
b.有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片:
GM280F分體式涂覆層測(cè)厚儀采用已知厚度的、均勻的、并與基體率固結(jié)合的覆差層作為標(biāo)準(zhǔn)片。對(duì)于本儀器,覆益層應(yīng)是非磁性的。
基體:
a.對(duì)于本儀器標(biāo)準(zhǔn)基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性,可用標(biāo)準(zhǔn)基體與待測(cè)試件基體上所測(cè)得的讀數(shù)進(jìn)行比較。
b.如果特測(cè)試件的基體金屬厚度沒(méi)有超過(guò)參數(shù)表中所規(guī)定的l的界厚度,可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn):
(1).在與待測(cè)試件的基體金屬厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn);
(2).用一足夠厚度的,電學(xué)或磁學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯生標(biāo)準(zhǔn)片或試件,但必須使基體金屬與襯塾金屬之間無(wú)間踐。(對(duì)西面有覆蓋層的試件,不能采用:討塾法。)
c.如果待測(cè)覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn),則覆益層的標(biāo)準(zhǔn)片的途層厚度,應(yīng)與試樣的涂層厚度相同。
三、其它事項(xiàng)
影響測(cè)量精度的因素及有關(guān)說(shuō)明
a.基體金屬磁性:
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,,低碳鋼確性的變化可以認(rèn)為是要徴的),為了選免熱處理及冷加工因表的影響,應(yīng)使用與被測(cè)件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)使器進(jìn)行校準(zhǔn),亦可用待涂覆金屬進(jìn)行被準(zhǔn)。
b.基體金屬厚度
每一種使器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度値見(jiàn)產(chǎn)品規(guī)格中的要求。
c.邊場(chǎng)效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的測(cè)量變敏感。因此在靠近被測(cè)件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
d.曲率
被測(cè)件的曲率:對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總隨著曲率半徑的減少明顯地增大。
e.表面粗粧度
基體金屬和覆差層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)課差和偶然課差,,每次測(cè)量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在末除覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬體件上取幾個(gè)位置校對(duì)使器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐性的溶劑溶解除去覆差層后,再校對(duì)使器的零點(diǎn)。
f.磁場(chǎng)
周田各種電氣設(shè)各所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),會(huì)嚴(yán)重地干就確性法測(cè)厚工作。
g.附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨得測(cè)頭與覆差層表面緊密接蝕的附著物質(zhì)織感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證使器探頭和被測(cè)件表面直接接蝕。
h.探頭壓力
探頭置于被測(cè)件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的法數(shù),,因此本儀器測(cè)頭用彈養(yǎng)保持一個(gè)基本恒定的壓力。
i.探頭的放置
探頭的放置方式:對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中,應(yīng)當(dāng)使探頭與待測(cè)試件表面保持垂直。
j.被測(cè)件的變形
探頭會(huì)使軟覆蓋層被測(cè)件變形,著變形過(guò)大,將會(huì)測(cè)出不太可靠的數(shù)據(jù)。
2.使用儀器日常應(yīng)當(dāng)連守的規(guī)定:
a.基體金屬特性
標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗粧度,應(yīng)當(dāng)與被測(cè)件基體金屬的磁性和表面粗鞋度相似。
b.基體金屬厚度
檢査基體金屬厚度是否超過(guò)臨昇厚度。
c.邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
d.曲率
不應(yīng)在被測(cè)件彎曲表面上測(cè)量。
e.讀數(shù)次數(shù)
通常由f儀器的每次讀數(shù)并不完全相同,因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度局部差異,也要求在指定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量,表面粗松時(shí)更應(yīng)如此。
f.表面清);言度測(cè)量前,應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì),如生士、油脂及腐性物質(zhì)等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
3.關(guān)于測(cè)量結(jié)果的說(shuō)明:a.根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)的觀點(diǎn),一次法數(shù)是不可靠的。因此任何由本使器顯示的測(cè)量值都是多次測(cè)量的平均值。這多次測(cè)量是在幾分之一秒的時(shí)間內(nèi)由測(cè)頭和儀器完成的。
b.為使測(cè)量更加準(zhǔn)確,可用本儀器在待測(cè)點(diǎn)多次測(cè)量,并用田除功能對(duì)粗大誤差進(jìn)行田除,然后用本儀器的統(tǒng)計(jì)功能處理,獲取五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均値(AVG)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測(cè)量次數(shù)(NO)、標(biāo)準(zhǔn)信差值(dFR)。
c.接照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),最終的測(cè)量結(jié)果可以表達(dá)為:
CH=A±2D
其中:CH覆l層厚度
A多次測(cè)量的平均值(AVG)
D標(biāo)準(zhǔn)信差(dFR)
