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發(fā)布日期:2022-10-09 點擊率:47
虹科-萬片電容老化失效測試系統(tǒng)
系統(tǒng)介紹
該系統(tǒng)主要用于電容老化測試,通過給電容施加電壓,同時同時施加高溫和高濕的環(huán)境,來加速電容的老化,測試電容的可靠性。系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計,支持通道擴(kuò)展,并且針對每一個電流通道都單獨(dú)實現(xiàn)監(jiān)測和控制斷開的功能,保證系統(tǒng)在其中某一個電容失效(短路)的時候不影響其他的通道。系統(tǒng)適合進(jìn)行大規(guī)模的測試,一次的測試容量可達(dá)幾萬片,因此采用了多電源供電的方式,可選的電源擴(kuò)展規(guī)模,能支持多路電源,即在一次測試中可以配置不同的通道供電電壓不同,從而實現(xiàn)了同一次長時間加熱加濕的過程中測試多種規(guī)格的電容。極大提升測試效率。
主要功能
1. 系統(tǒng)主要用于電容的老化測試
2. 系統(tǒng)提供高低溫和濕度環(huán)境。
3. 系統(tǒng)支持一次測試中提供多組可調(diào)電壓值,且每一路電壓可以程控輸入到任意一組電容上。
4. 系統(tǒng)可以實現(xiàn)對每一路的電流進(jìn)行監(jiān)控,當(dāng)電容失效電流超限時可報警或者自動斷開該路,不影響其他路的測試。
5. 電流監(jiān)控可以自定義閾值。
6. 系統(tǒng)配備LED面板,試試顯示每一路的失效情況。
7. 系統(tǒng)預(yù)留TCP通訊接口,可以實現(xiàn)通過TCP遠(yuǎn)程控制和獲取測試數(shù)據(jù)。
8. 系統(tǒng)可以自動化測試并且生成測試報告。
9. 系統(tǒng)配備高阻儀,可以檢測檢測每一路的電容對應(yīng)的阻值。
10. 測試通道可擴(kuò)展,能達(dá)到一次2000+通道和四萬片以上電容的老化失效測試,極大提升測試效率。
系統(tǒng)組成
為了達(dá)到靈活的電源配置,我們采用了基于LXI的大規(guī)模矩陣,可以實現(xiàn)電源和測試設(shè)備到電容組的任意路由,同時采用了虹科電流監(jiān)控模塊,可以同時監(jiān)測上千個通路的電流,并且實現(xiàn)閾值的自定義和自動切斷NG短路的被測件,保證系統(tǒng)在有短路的情況下仍然可以正常運(yùn)行測試。
核心設(shè)備
1、基于LXI總線的大規(guī)模矩陣 :利用矩陣實現(xiàn)電源和高阻儀的信號路由
2、虹科電流監(jiān)控模塊:實時監(jiān)控每一路的電流,擁有自定義閾值報警和可配置的超過閾值自動切斷的功能
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