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　　全球領先的坐標測量機 (CMM) 設備制造商雷尼紹，宣布推出全新改進的SFP2表面粗糙度檢測測頭;該測頭適合在CMM上與雷尼紹REVO五軸測量系統配套使用。

　　SFP2測頭增強了REVO系統的表面粗糙度測量能力 — REVO具有多類型傳感器功能，可在單臺CMM上提供觸發式、高速接觸式掃描和非接觸式影像測量。

　　REVO在CMM上將表面粗糙度測量和尺寸檢測功能結合在一起，相較于需要單獨進行操作的傳統檢測方法而言，具有無與倫比的優勢。在五軸測量技術的支持下，SFP2的自動化表面粗糙度檢測可顯著節省時間、減少工件搬運，并獲得更高的投資回報。

　　SFP2系統由測頭和一系列模塊組成，能夠與REVO的其他測頭自動交換，靈活性高，可在同一CMM平臺上輕松選擇最佳工具檢測多種特征，由多個傳感器采集的數據自動參照同一基準。

　　SFP2表面粗糙度檢測系統使用與REVO系統相同的符合I++ DME標準的界面來管理，由雷尼紹MODUSTM測量軟件提供所有用戶功能。

　　屢獲殊榮的雷尼紹獲REVO五軸測量系統是唯一能同步控制CMM上三個機器坐標軸和兩個測座軸運動，并同時采集工件數據的掃描系統。REVO系統使用各種2D和3D接觸式測頭、表面粗糙度檢測測頭和非接觸式影像測頭，顯著提高了CMM工件檢測的速度和精度。

　　參觀者可在9月18–23日舉辦的EMO 2017德國漢諾威歐洲機床展的雷尼紹展臺上一睹全新SFP2系統的風采。