發布日期：2022-04-26 點擊率：113
此膜厚計為一只手持式、使用簡易、3?位數(1999 讀值)、設計堅實之導磁或非導磁兩用式膜厚計，專門設計為可單手操作使用。此膜厚計但有顯示器背光閱讀功能，供黑暗中讀取顯示器讀值，并有自動讀值鎖定功能及自動關機功能，以延長電池壽命。
?在使用膜厚計前，請閱讀操作安全須知及使用手冊。
?請勿將膜厚計靠近任何會產生強力磁場或者靜電場的裝置，此舉可能會導致膜厚計故障。
?請勿在暴露于腐蝕性或者可燃性氣體下使用膜厚計。此舉可能會破壞膜厚計或者產生爆炸。
?請勿在直接受到日光照射或者結露的環境下使用膜厚計，此舉可能會導致膜厚計發生變形或者導致絕緣層被破壞，或者導致膜厚計特性超出規格。
? 請 勿 將 膜 厚 計 放 置 于 高 溫 的 物 體 旁(70°C/158°F)。此舉將會破壞膜厚計的外殼。
?當膜厚計暴露在顯著的環境溫度變化時(熱變冷或冷變熱)，請將膜厚計靜置 30 分鐘等待溫度穩定后再開始量測。
?若膜厚計連續量測厚度超過 1 分鐘的話，量測厚度的精確度將會下降。但是膜厚計的量測結果仍然會在指定的精確度之內。
?因顯著的環境溫度變化導致感測器前端結露，請靜置 10 分鐘，待結露消失再開始量測。
?膜厚計并未被設計成可以防水或者防塵的架構，因此請勿在滿是灰塵的環境或者潮濕的環境使用膜厚計。
?量測時，務必確認感測器前端緊貼待測物且不會晃動，以提高量測值之準確性。
?量測時請確保底材與鍍膜之間無氣泡存在。
? 底材歸零校正 ： 必須在每次量測時實行此動作 。
? 兩點校正：必須在常用測試點實行此動作以增加量測的準確度。
磁場干擾
特安斯TASI676兩用型膜厚計采用磁場量測方式來量測導磁底材為基底的鍍膜厚度。若于 20 毫高斯以上的磁場干擾環境來操作膜厚計將導致準確度受影響。建議操作此膜厚計時遠離磁場干擾源至少 30 公分以上。
一般規格顯示器：3?位數的液晶顯示器(LCD)最大顯示值為1999。
低電池電量指示：當“
”顯示的話，表示電池電量低于操作時所需的電量。
量測速率：1 次/每秒。
操作環境：32°F至122°F(0°C至50°C)，相對濕度小于75% RH的環境下。
儲存溫度：-4°F至140°F (-20°C至60°C)，相對濕度小于80%RH，電池從膜厚計移除的狀態下。
自動電源關閉：30秒。
待機時電源損耗：<15uA。使用電池：標準9V電池(NEDA 1604，IEC 6F22006P)。
電池壽命：碳鋅電池約可連續使用9小時(顯示器背光均在使用的情況下)。
尺寸：14.8公分(高) x 10.5公分(寬) x 4.2公分(厚)。
重量：約157克(含電池)。
可量測底材種類：導磁金屬(鐵、鋼)及非導磁金屬(銅、鋁、鋅等)
厚度量測范圍：0 至 40.0mils (0 至 1000μm)。
顯示解析度：0.1mils/1μm。
準確度：
±4dgts 于 0 至 7.8mils
±10dgts 于 0 至 199μm
±(3% + 4dgts) 于 7.9mils 至 40mils
±(3% + 10dgts) 于 200μm 至 1000μm
溫度系數：操作環境溫度> 28°C(82.4°F)或<18°C
(64.4°F)時，每增減1°C(°F)，規格增加為讀值之0.1倍。
反應時間：1 次/每秒。
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型號：4139.140
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