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發(fā)布日期:2022-07-15 點擊率:45
會議集聚了當今儀表與測量技術(shù)研究領(lǐng)域的知名專家和學者,與會代表就國際最新的儀表和測量技術(shù)、信號處理技術(shù)、數(shù)據(jù)采集技術(shù)、傳感器技術(shù)等方面進行廣泛的交流和討論,集中體現(xiàn)了未來儀表與測量技術(shù)的發(fā)展方向。
會議現(xiàn)場,許多專家和學者來到中控展位,觀摩ECS-700DCS演示箱,并聽取工作人員的講解。他們中有不少人表示對褚健的演講印象深刻,對中控及其產(chǎn)品表現(xiàn)出濃厚的興趣。鑒于此,工作人員組織部分外賓在會議結(jié)束之后赴中控參觀,加深了解,促進合作。
本次會議是拓展中控國際化交流與合作的一次重要契機。借助這樣的學術(shù)平臺,一方面了解業(yè)內(nèi)技術(shù)發(fā)展的最新動態(tài),另一方面也促進相互間的科技交流與技術(shù)合作,進一步提升中控在測量與測試領(lǐng)域的學術(shù)地位和知名度。