發布日期：2022-07-15 點擊率：121
泰克AWG70000和STEM項目以及吉時利Model 2450 SMU 由于創新和行業貢獻獲得認可
中國 北京，2014年3月18日 – 全球領先的測試、測量和監測儀器提供商---泰克公司日前宣布，其AWG70000系列任意波形發生器與吉時利儀器(泰克旗下品牌)的Model 2450 SourceMeter? SMU儀器一起獲得著名的ACE獎提名。此外，泰克還獲得了STEM影響獎提名。
由《電子工程專輯》和《電子技術設計》主辦的2014電子成就獎 (ACE Awards)將展示當今電子行業中“最佳中的最佳”，包括最熱門產品、新創公司、設計團隊、高管等。電子成就獎的評選由一個包括《電子工程專輯》和《電子技術設計》編輯的評委會和一個包括電子行業獨立評委的評委會負責。電子成就獎獲得者將在2014年4月1日(星期二)下午6:30 - 8:30于美國加州費爾蒙酒店舉行的頒獎儀式上公布，屆時《電子工程專輯》網站將進行直播(EE Live! Show)。STEM影響獎(STEM Impact Award)獲得者將由《電子工程專輯》讀者票選產生。
“我們對獲得《電子工程專輯》和《電子技術設計》電子成就獎提名深感激動和榮幸，這是我們行業的一個重要榮譽”，泰克公司源分析儀產品線總經理Jim McGillivary表示，“從我們對推動科學技術教育的承諾到開發各種創新產品，如AWG70000和Model 2450，泰克始終是電子行業的一個重要參與者，這些提名反映了我們日復一日向客戶提供的大量價值。”
由于所有電子及RF領域的數據速率和信號復雜性都不斷增加，所以工程師和研究人員需要更先進的信號發生器來對設計進行全面應力測試或開展前沿研究。AWG70000系列以其50 GS/s采樣速度、16 GS波形內存和10位垂直分辨率的獨特組合滿足了這個需求。它能產生可通過接收器或其他待測器件進行長時間傳送的快速而干凈的信號，來支持真正全面的測試。
來自吉時利儀器的Model 2450 SourceMeter SMU(源測量單元)儀器把直觀的觸摸屏與基于圖標的控制結合起來，使SMU新用戶也能領略只有經驗豐富的用戶才需要的卓越多功能性，以加快學習速度、提高工作技巧和促進發明創造。Model 2450的設計，吉時利的最新一代SMU儀器為用戶與測試測量儀器互動提供了一種全新方式。
推動科學技術教育或STEM(科學、技術、工程和數學)教育對整個電子行業的成功至關重要。泰克公司自1952年以來一直通過泰克基金會支持STEM計劃。去年，泰克支持了許多教育計劃，包括NASA Student Launch Project、波特蘭州立大學學院擴充項目以及向高中和大學科學實驗室捐贈示波器和其他設備等等。
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